Student.s Quickfield. FEA-Paket für elektromagnetische, thermische und Spannungs-Design-Simulation.
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Student.s Quickfield. Ranking & Zusammenfassung

Student.s Quickfield. Stichworte

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Student.s Quickfield. Beschreibung

Editby Was ist neu in Quickfield 5.5 Label-Cover mit Optimierung. LabelCover ist eine ActiveField-basierte Anwendung, die in drei optionalen Modi funktioniert: Serien-, Toleranz- und Optimierungsanalyse. QuickField-Modelle, die Sie produziert haben, können mit einem Label-Cover parametrisch untersucht werden. Durch die Angabe einer Reihe von Modifikationen der Modellgeometrie oder der physikalischen Eigenschaften erzeugt die serielle Analyse die entsprechende Reihe von Quickfield-Problemen und löst sie, wodurch Ihre Ergebnisse in Form einer Tabelle oder einem Diagramm angezeigt werden. Die Toleranzanalyse untersucht die resultierenden Parametervariationen in Ihrem QuickField-Modell, die durch Herstellungsunabhängigkeiten oder instabile Materialeigenschaften verursacht werden können. Diese beiden Arten von parametrischen Studien werden jetzt durch Optimierungsanalyse ergänzt. Mit QuickField Version 5.5 können Sie nun einen beliebigen Wert angeben, der vom Quickfield Postprocessor als Ziel, entweder als "Maximum", "Minimum" oder "am nächsten zum angegebenen Wert" bereitgestellt wird. Nach dem QuickField-Profi werden erstellt, überprüft und für die LabelMover-Optimierung ausgewählt, wobei dieses Tool mehrere Modellparameter anpasst, um Ihr angegebenes Ziel zu erreichen. Es gibt ein paar Möglichkeiten, dies zu erreichen. Sie können entweder die integrierten Optimierungsalgorithmen (basierend auf Brent-Methode zur eindimensionalen Optimierung oder Nelder-Mead-Methode (AMOEBA-Methode) zur multi-dimensionalen Optimierung) verwenden. Beide Methoden sind zuverlässig und bieten schnelle, genaue praktische Ergebnisse. Es ist auch möglich, Ihre eigenen Algorithmen zu entwickeln und sie auf Feldmodelle anzuwenden, indem Sie einfach die Interaktion zwischen Etikettenmessover und Ihren anderen Programmen organisieren. Das Aufrufen des EtikettscOvers von Ihrer Bewerbung kann entweder durch die Mulde der COM-Automatisierungsschnittstelle oder der vereinfachten Befehlszeilenoberfläche erfolgen. Jede dieser beiden Ansätze bietet die Möglichkeit, das Feldmodell als "Black Box" zum Optimierungsalgorithmen-Design oder als Teil des industriellen Steuerungsprozesses zu verwenden.

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